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Micron Document

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<title>Tracking-Interferometer</title>

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<h1 id="firstHeading" class="firstHeading mw-first-heading"><span class="mw-page-title-main">Tracking-Interferometer</span></h1>

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</div>

<div id="mw-content-text" class="mw-body-content mw-content-ltr" lang="de" dir="ltr"><div class="mw-content-ltr mw-parser-output" lang="de" dir="ltr"><p>Ein <b>Tracking-Interferometer</b> ist ein <a href="Messger%C3%A4t" title="Messgerät">Messgerät</a>, das <a href="3D" title="3D">3D</a>-Koordinaten von Objektpunkten erfassen kann. Sie bestehen aus einem Interferometer, dessen Laserstrahl automatisch einem Reflektor folgen kann. Lasertracker werden zur <a href="Digitalisierung" title="Digitalisierung">Digitalisierung</a> von Objekten, zur Messung großer Bauteile in der <a href="Qualit%C3%A4tssicherung" title="Qualitätssicherung">Qualitätssicherung</a>, zur Kalibrierung von <a href="Werkzeugmaschine" title="Werkzeugmaschine">Werkzeugmaschinen</a> und in der <a href="Geod%C3%A4sie" title="Geodäsie">Geodäsie</a> verwendet.

</p>

<div class="mw-heading mw-heading2"><h2 id="Geschichte">Geschichte</h2></div>

<p>Das selbstverfolgende Interferometer wurde von Kam C. Lau und Robert J. Hocken entwickelt und im Jahre 1986 vom <a href="Handelsministerium_der_Vereinigten_Staaten" title="Handelsministerium der Vereinigten Staaten">US-Handelsministerium</a> zum Patent angemeldet.<sup id="cite_ref-1" class="reference"><a href="#cite_note-1"><span class="cite-bracket">[</span>1<span class="cite-bracket">]</span></a></sup> Dieses Patent wurde ab 1989 an die Firma <a href="Leica_Geosystems" title="Leica Geosystems">Leica Geosystems</a> lizenziert. Leica verkaufte 1991 das erste derartige Messsystem an den amerikanischen Flugzeughersteller <a href="Boeing" title="Boeing">Boeing</a>. Seitdem ist der Markt für Lasertracker trotz des hohen Preisniveaus kontinuierlich gestiegen. Sie besitzen heute einen festen Platz im industriellen <a href="Qualit%C3%A4tsmanagement" title="Qualitätsmanagement">Qualitätsmanagement</a>.

</p>

<div class="mw-heading mw-heading2"><h2 id="Prinzip">Prinzip</h2></div>

<p>Ein Lasertracker besteht aus einem um die kugelförmige Referenzfläche drehbaren <a href="Interferometrie" title="Interferometrie">Laser-Interferometer</a>. Die Ausrichtung des Interferometers wird mit <a href="Drehgeber" title="Drehgeber">Drehgebern</a> in zwei Winkeln gemessen. Durch die Messung des Abstandes und zweier Winkel werden Punkte in Kugelkoordinaten gemessen, die mit einer <a href="Koordinatentransformation" title="Koordinatentransformation">Koordinatentransformation</a> in <a href="Kartesisches_Koordinatensystem" title="Kartesisches Koordinatensystem">kartesische Koordinaten</a> umgerechnet werden können. Das Interferometer des Lasertrackers arbeitet mit einigen tausend Laserpulsen pro Sekunde.

</p>

<div class="mw-heading mw-heading2"><h2 id="Anwendungen">Anwendungen</h2></div>

<p>Lasertracker werden zur <a href="Digitalisierung" title="Digitalisierung">Digitalisierung</a> von Objekten in der <a href="Industrie" title="Industrie">Industrie</a> und in der <a href="Geod%C3%A4sie" title="Geodäsie">Geodäsie</a> verwendet und arbeiten mit einigen tausend Laserpulsen pro Sekunde.

</p>

<div class="mw-heading mw-heading2"><h2 id="Genauigkeit">Genauigkeit</h2></div>

<p>Die <a href="Messunsicherheit" title="Messunsicherheit">Messunsicherheit</a> von Tracking-Interferometern wird durch die Unsicherheit der interferometrischen Längenmessung, die Stabilität des optischen Drehzentrums und den eingesetzten Reflektor beeinflusst.<sup id="cite_ref-2" class="reference"><a href="#cite_note-2"><span class="cite-bracket">[</span>2<span class="cite-bracket">]</span></a></sup> Die Unsicherheit der interferometrischen Längenmessung ist vor allem durch die Umgebungseinflüsse und die Länge beeinflusst, die der Laserstrahl durch die Luft strahlt. Um Änderungen der Umgebungsbedingungen festzustellen, werden während des Betriebs Luftdruck, Luftfeuchte und Temperatur gemessen. Mit diesen Messwerten und einem Modell des Prozesses können die systematischen Fehler der Längenmessung größtenteils kompensiert werden.

</p>

<div class="mw-heading mw-heading2"><h2 id="Siehe_auch">Siehe auch</h2></div>

<ul><li><a href="Industrieroboter" title="Industrieroboter">Industrieroboter</a></li>

<li><a href="Messsystem" title="Messsystem">Messsystem</a></li>

<li><a href="Laserscanning" title="Laserscanning">Laserscanning</a></li></ul>

<div class="mw-heading mw-heading2"><h2 id="Einzelnachweise">Einzelnachweise</h2></div>

<li id="cite_note-1"><span class="mw-cite-backlink"><a href="#cite_ref-1">↑</a></span> <span class="reference-text"><span class="cite">Patent <a rel="nofollow" class="external text" href="https://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?locale=de_EP&CC=US&NR=4714339A&FT=D&KC=A">US4714339A</a>: <i>Three and five axis laser tracking systems.</i> Angemeldet am <span style="white-space:nowrap;">28. Februar 1986</span>, veröffentlicht am <span style="white-space:nowrap;">22. Dezember 1987</span>, Anmelder: The United States of America as represented by the Secretary of Commerce, Erfinder: Kam C Lau, Robert J. Hocken.</span><span class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Apatent&rft_id=US4714339A&rft.applcc=US&rft.title=Three+and+five+axis+laser+tracking+systems&rft.inventor=Kam+C+Lau%2C+Robert+J.+Hocken&rft.assignee=The+United+States+of+America+as+represented+by+the+Secretary+of+Commerce&rft.appldate=1986-02-28&rft.pubdate=1987-12-22">‌</span></span>

</li>

<li id="cite_note-2"><span class="mw-cite-backlink"><a href="#cite_ref-2">↑</a></span> <span class="reference-text">Philipp Jatzkowski: <cite style="font-style:italic">Ressourceneffiziente Kalibrierung von 5-Achs-Werkzeugmaschinen mit Tracking-Interferometern</cite> (= <cite style="font-style:italic">Diss. RWTH Aachen</cite>). Apprimus, 2011, ISBN 978-3-86359-011-6, <span style="white-space:nowrap">S.<span style="display:inline-block;width:.2em"> </span>49–65</span>.<span class="Z3988" title="ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info%3Aofi%2Ffmt%3Akev%3Amtx%3Abook&rfr_id=info:sid/de.wikipedia.org:Tracking-Interferometer&rft.au=Philipp+Jatzkowski&rft.btitle=Ressourceneffiziente+Kalibrierung+von+5-Achs-Werkzeugmaschinen+mit+Tracking-Interferometern&rft.date=2011&rft.genre=book&rft.isbn=9783863590116&rft.pages=49-65&rft.pub=Apprimus&rft.series=Diss.+RWTH+Aachen" style="display:none"> </span></span>

</li>

</ol></div><div><div class="zim-footer">

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